Jahrgang 1954,
ist Advanced Applications Manager der General Electric Medical Systems.
1975-1981 Studium der Physik an der Philipps Universität Marburg, 1984 Promotion zum Dr. rer. nat. in Marburg. 1984-1990 Tätigkeit in der zentralen Forschung und Entwicklung bei der Siemens AG, München, Entwicklung einer Lichtsensorzeile aus amorphem Silizium. 1990-1995 Entwicklung von Flächendetektoren aus amorphem Silizium bei der Heimann GmbH, Wiesbaden. 1995-1999 Aufbau der Produktionsanlage für Flächendetektoren aus amorphem Silizium für Anwendungen in der Radiologie bei der EG&G, Santa Clara, CA/USA. 1999-2001 General Electric Medical Systems, Santa Clara, CA/USA, Physikalische Grundlagen von Flächendetektoren aus amorphem Silizium. Seit Februar 2001 Advanced Applications Manager General Electric Medical Systems.

GE Medical Systems GmbH & Co KG 
Martin-Behaim-Str. 10, D-63263 Neu-Isenburg 
Telefon: +49-6102-36 24 16 
E-Mail: Gehard.Brunst@ge.com
Internet: http://www.gemedicalsystems.de 



Folgende Artikel sind von Herrn Brunst bei Health Academy erschienen: 

High Resolution Digital Flat Panel Detectors for X-Ray  Applications - Basics
In: HA 2/2002

Hochauflösende digitale Flachbild-Detektoren für Röntgenanwendungen - physikalische und technische Grundlagen
In: HA: 1/2001